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Registros recuperados : 66 | |
2. | | LEITE, F. L.; HERRMANN, P. S. P. Caracterization of adhesion force, of two soil minerals particles (mica and siicon), in the nanoscale, using atomic force microscopy (AFM). Acta Microscopica, Maracaibo, v.12, Apr. 2003. Supplement A. CD de trabalhos e resumos apresentados no Second Latin American Symposium on Scanning Microscopy, Búzios, Apr. 2003. 2 f. 1 CD-ROM. Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação. |
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7. | | BORATO, C. E.; LEITE, F. L.; OLIVEIRA JR, O. N.; MATTOSO, L. H. C. Efficient taste sensors made of bare metal electrodes. Sensor Letters, University Park, Pennsylvania, v. 4, n. 2, p. 1-5, 2006. Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação. |
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11. | | HERRMANN, P.; LEITE, F. L.; MATTOSO, L. C.; OLIVEIRA JUNIOR, O. Atomic force spectroscopy as a tool to study the electrical conductivity of polyaniline and derivatives. In: INTERNATIONAL CONFERENCE ON NANOSCIENCE AND TECHNOLOGY - NANO, 9., 2006, Basel. Final Program... Basel, 2006. Entrada padronizada: HERRMANN, P. S. P.
Entrada padronizada: MATTOSO, L. H. C. Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação. |
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15. | | STEFFENS, C.; SANDOVAL, R. D.; MANZOLI, A.; LEITE, F. L.; FATIBELLO, O.; HERRMANN, P. S. P. Investigation of a sensitive layer of polyaniline as coating for microcantilever as a nanosensor. In: NANOMECHANICAL SENSING WORKSHOP-NMC, 9., Bombay Mumbai, India. Proceedings... Bombay: National Program on Micro and Smart Systems - NPMASS, Indian Nanoelectronics Users Program - INUP, 2012. p. 78-79. Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação. |
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17. | | STEFFENS, C.; SANDOVAL, R. D.; MANZOLI, A.; LEITE, F. L.; HERRMANN, P. S. P. Sensores de microcantilever revestidos com polímeros condutores, utilizado na detecção de umidade relativa. In: WORKSHOP DA REDE DE NANOTECNOLOGIA APLICADA AO AGRONEGÓCIO, 6., 2012, Fortaleza. Anais... São Carlos: Embrapa Instrumentação; Fortaleza: Embrapa Agroindústria Tropical, 2012. p. 79-81. Editores: Maria Alice Martins, MOrsyleide de Freitas Rosa, Men de Sá Moreira de Souza Filho, Nicodemos Moreira dos Santos Junior, Odílio Benedito Garrido de Assis, Caue Ribeiro, Luiz Henrique Capparelli Mattoso. Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação. |
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19. | | LEITE, F. L.; MANZOLI, A.; ALVES, W. F.; HERRMANN P. S. P.; MATTOSO, L. H. C.; OLIVEIRA JUNIOR, O. N. Estimation of molecular weight and polydispersity in conducting polymers using single-molecule force spectroscopy. In: ENCONTRO DA SOCIEDADE BRASILEIRA DE PESQUISA EM MATERIAIS - SBPMat, 7., 2008, Guarujá; BRAZILIAN MRS MEETING, 7., 2008, Guarujá. Abstracts... Rio de Janeiro: SBPMat, 2008. não paginado. 1CD-ROM. Entrada padronizada: HERRMANN JUNIOR, P. S. de P. Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação. |
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20. | | LEITE, F. L.; SIMÕES, M. L.; HERRMANN, P. S. P.; MARTIN NETO, L.; MATTOSO, L. H. C.; OLIVEIRA, O. N. Evidence of conducting islands on polyaniline films: charge nanocarriers. In: ENCONTRO DA SOCIEDADE BRASILEIRA DE PESQUISA EM MATERIAIS - SbpMat, 6., 2007, Natal; BRAZILIAN MRS MEETING, 6., 2007, Natal. Abstracts... Natal: SBMat, 2007. 1 CD-ROM. Não paginado. Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação. |
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Registros recuperados : 66 | |
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| Acesso ao texto completo restrito à biblioteca da Embrapa Instrumentação. Para informações adicionais entre em contato com cnpdia.biblioteca@embrapa.br. |
Registro Completo
Biblioteca(s): |
Embrapa Instrumentação. |
Data corrente: |
05/04/2005 |
Data da última atualização: |
05/04/2005 |
Autoria: |
FIRMINO, A.; BORATO, C. E.; LEITE, F. L.; RIUL JR.; A.; BERNARDES FILHO, R.; MATTOSO, L. H. C. |
Título: |
AFM as a tool for development sensors. |
Ano de publicação: |
2003 |
Fonte/Imprenta: |
Acta Microscopica, Maracaibo, v. 12, Apr. 2003. Supplement A. CD de trabalhos e resumos apresentados no Second Latin American Symposium on Scanning Probe Microscopy, Búzios, Apr. 2003. 2 f. Invited paper. 1 CD-ROM. |
Idioma: |
Inglês |
Conteúdo: |
Atomic force microscopy (AFM) is a powerful tool for the characterisation of poiymeric fthns [ 1-4], however, only a few studies have being IDade using this technique in sensor applications. In the present work, It has been employed in the development of a taste sensor, siIK:.e the study of the interfacial phenomena at the electrode/electroiyte interface may lead to a better comlX"ehension of the basic transducing processes occurring at the nano-scale. |
Palavras-Chave: |
Microscopia de Força Atômica; Polímeros; Sensores; Superfície. |
Categoria do assunto: |
-- |
Marc: |
LEADER 01231naa a2200241 a 4500 001 1028910 005 2005-04-05 008 2003 bl --- 0-- u #d 100 1 $aFIRMINO, A. 245 $aAFM as a tool for development sensors. 260 $c2003 520 $aAtomic force microscopy (AFM) is a powerful tool for the characterisation of poiymeric fthns [ 1-4], however, only a few studies have being IDade using this technique in sensor applications. In the present work, It has been employed in the development of a taste sensor, siIK:.e the study of the interfacial phenomena at the electrode/electroiyte interface may lead to a better comlX"ehension of the basic transducing processes occurring at the nano-scale. 653 $aMicroscopia de Força Atômica 653 $aPolímeros 653 $aSensores 653 $aSuperfície 700 1 $aBORATO, C. E. 700 1 $aLEITE, F. L. 700 1 $aRIUL JR. 700 1 $aA. 700 1 $aBERNARDES FILHO, R. 700 1 $aMATTOSO, L. H. C. 773 $tActa Microscopica, Maracaibo$gv. 12, Apr. 2003. Supplement A. CD de trabalhos e resumos apresentados no Second Latin American Symposium on Scanning Probe Microscopy, Búzios, Apr. 2003. 2 f. Invited paper. 1 CD-ROM.
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Registro original: |
Embrapa Instrumentação (CNPDIA) |
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